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免費的XRD薄膜分析Workshop (9月17日): 深入了解XRD最新的應用, 包括超高速倒異空間圖譜分析技術

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2020-09-12 12:40:50
發布者姓名
譚丹瑋
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一館226室Xpert XRD廠商提供免費線上課程:

免費的線上直播workshop:薄膜分析(中文進行)

 

近年來,氧化鋅(ZnO)和氮化鎵(GaN)等材料已成為各種薄膜應用上不可或缺的組成物料,例如,在太陽能轉換和壓電奈米發電(用於穿戴式裝置)上作為光催化劑,為了優化材料的性能(無論是材料的儲存能力或導電率等),對研究人員來說,通過X光繞射對其結構特徵加深了解是非常重要的。

誠摯地邀請您參加此研習會,加深對薄膜材料研究的了解,我們特別邀請了來自荷蘭研究中心以及來自台灣有著多年半導體工作經驗的應用專家,講者將討論最新的應用和最新的X光繞射儀,來幫助您的研究,我們期待能與您進行實際案例研究,以進階方法-倒異空間圖譜分析技術(RSM),解釋繞射峰位移(peak displacement)、繞射峰寬化(peak broadening) 或繞射峰重疊(peak overlap)。這次我們將帶您了解Malvern Panalytical現在如何通過URSM將研究帶入另一個新的高度,使用超高速倒異空間圖譜分析技術,可以在30秒內完成數據收集。

 

 

 

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