NTU Chemical Engineering – Facility

●顯微鏡

-場發射電子顯微鏡(Ultra-High Resolution FE-SEM with low vacuum mode)

-光學顯微鏡(I)(Optical Microscope)

-光學顯微鏡(II)(Optical Microscope)

●粒徑分析儀/●表面電位測量儀

-雷射光繞射粒徑分析儀(Particle Size Analyzer by Static Light Scattering Method)

-高濃度粒徑分析及界面電位分析儀(Acoustic and Electroacoustic Spectrometer)

-動態光散射粒徑分析儀及界面電位分析儀(Particle Size and Zeta Potential Analyzer)

●密度儀

-密度分析儀(Automatic Gas Displacement Pycnometer)

●表面積及孔隙度測定儀

-比表面積分析儀(Specific Surface Area & Pore Size Distribution Analyzer by Gas Adsorption Method, ASAP2010 and ASAP2020)

-水銀測孔儀(Mercury Porosimeter)

●篩分機

-超音波篩分機(Ultrasonic Autosiever)

●研磨機-TOP-

● 熱性質分析：

– 熱重分析儀

– 差式掃瞄熱量分析儀

– 高溫示差同步掃描分析儀

– 動態機械性質分析儀

● 化學分析

– 紫外光 – 可見光譜儀

– 原子吸收光譜分析儀

– 膠透層析儀

– 離子層析儀

– 超離心過濾機

– 表面電漿共振儀

– 拉曼光譜儀

– 霍氏轉換紅外光譜儀

● 材料鑑定與分析

– 掃瞄式電子顯微鏡

– 分散 X 光能量分析

– 偏光顯微鏡

– 光學顯微鏡

– X 光繞射儀

● 流體物性分析

– 屈折計

– 接觸角儀 -TOP-

化工系目前擁有兩台AFM，它們的廠牌型號與使用特性有些不同，其中:

廠牌型號Digital Instruments NS3A 者為1997年購入，管理助教為劉邦彥助教。

廠牌型號SII E-SWEEP者機齡較新，管理助教為李育凭助教。

兩台儀器存放位置均在工121B實驗室，商借使用是到206實驗室辦理。

兩台AFM相同特點:

基本原理都是一樣，將探針置於固體sample上來回掃描，利用原子間的作用力來分析sample表面的3D圖形，能進一部分析表面的結構尺度以及粗超度，能觀察的尺度可以達到奈米等級，掃描方式也能隨材料不同選擇接觸式或非接觸式，為非破壞式的分析。

兩台AFM最主要的差異:

在於DI NS3A的是開放是的機台，而SII E-SWEEP的機台有特殊的腔體， 能作真空或高壓的操作，且SII E-SWEEP儀器解析度較好。-TOP-