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公用實驗室
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| 實驗室 | 位置 | 電話 | 指導教授 | |
| 表面分析實驗室 | 113 | 2368-3317 3366-3009 |
廖英志 | |
| 粉粒體技術實驗室 | 107,109 | 3366-3010 3366-3011 |
廖英志 | |
| 儀器分析實驗室 | 226 | 3366-3046 3366-3047 |
廖英志 | |
| 掃描探針顯微儀室 | DI (NS3A) | 工121B | 3366-3041 | 陳立仁 |
| 掃描探針顯微儀室 | SII (E-SWEEP) | 3366-3043 | 戴子安 | |
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系所公用設備簡介
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| 共用儀器 |
| 本系除各研究室購置所需之實驗設備外，為使貴重儀器能被充份使用，發揮最大功能，乃集中成立儀器分析實驗室、粉粒體技術實驗室、表面分析實驗室與掃描探針顯微儀室等四個共用儀器室，由專業技術人員有效的管理，並提供教育訓練、技術諮詢、委託分析等多項服務，並協助各教授與學生們在研究上之實驗分析工作。 |
| 粉粒體技術實驗室 |
| 本實驗室匯集粉粒體分析之相關設備，擁有國內最完整的粉粒體技術與奈米材料研究等量測設備，包括場發射電子顯微鏡、粒徑分佈、比表面積分析、孔隙分佈、介面電位與粉粒體密度之量測等設備。其主要儀器有：
●顯微鏡 -場發射電子顯微鏡(Ultra-High Resolution FE-SEM with low vacuum mode) -光學顯微鏡(I)(Optical Microscope) -光學顯微鏡(II)(Optical Microscope) ●粒徑分析儀/●表面電位測量儀 -雷射光繞射粒徑分析儀(Particle Size Analyzer by Static Light Scattering Method) -高濃度粒徑分析及界面電位分析儀(Acoustic and Electroacoustic Spectrometer) -動態光散射粒徑分析儀及界面電位分析儀(Particle Size and Zeta Potential Analyzer) ●密度儀 -密度分析儀(Automatic Gas Displacement Pycnometer) ●表面積及孔隙度測定儀 -比表面積分析儀(Specific Surface Area & Pore Size Distribution Analyzer by Gas Adsorption Method, ASAP2010 and ASAP2020) -水銀測孔儀(Mercury Porosimeter) ●篩分機 -超音波篩分機(Ultrasonic Autosiever) ●研磨機-TOP- |
| 儀器分析實驗室 |
| 本實驗室匯集熱性質分析、化學分析、材料鑑定與分析、流體物性分析等相關設備，擁有X光繞射儀、熱重示差同步掃描分析儀、表面電漿共振儀與拉曼光譜儀等十餘種分析儀器。主要儀器有：
● 熱性質分析： – 熱重分析儀 – 差式掃瞄熱量分析儀 – 高溫示差同步掃描分析儀 – 動態機械性質分析儀 ● 化學分析 – 紫外光 – 可見光譜儀 – 原子吸收光譜分析儀 – 膠透層析儀 – 離子層析儀 – 超離心過濾機 – 表面電漿共振儀 – 拉曼光譜儀 – 霍氏轉換紅外光譜儀 ● 材料鑑定與分析 – 掃瞄式電子顯微鏡 – 分散 X 光能量分析 – 偏光顯微鏡 – 光學顯微鏡 – X 光繞射儀 ● 流體物性分析 – 屈折計 – 接觸角儀 -TOP- |
| 表面分析實驗室 |
| 擁有化學分析電子能譜儀，係利用高能量的電磁波(Al-Kα(1486.6eV)照射材料表面，分析游離出“光電子(photoelectron)”束縛能，可判定材料表面元素成份，提供表面或薄膜結構之定量元素和化學組態資訊。 -TOP- |
| 掃描探針顯微儀室 |
| 擁有真空控溫型原子力顯微鏡，係利用微小探針掃描樣品表面，可判定奈米級表面形貌、表面摩擦力大小分佈、表面導電性質分佈與表面穿遂電流分佈等奈米級表面性質。
化工系目前擁有兩台AFM，它們的廠牌型號與使用特性有些不同，其中: 廠牌型號Digital Instruments NS3A 者為1997年購入，管理助教為劉邦彥助教。 廠牌型號SII E-SWEEP者機齡較新，管理助教為李育凭助教。 兩台儀器存放位置均在工121B實驗室，商借使用是到206實驗室辦理。 兩台AFM相同特點: 基本原理都是一樣，將探針置於固體sample上來回掃描，利用原子間的作用力來分析sample表面的3D圖形，能進一部分析表面的結構尺度以及粗超度，能觀察的尺度可以達到奈米等級，掃描方式也能隨材料不同選擇接觸式或非接觸式，為非破壞式的分析。 兩台AFM最主要的差異: 在於DI NS3A的是開放是的機台，而SII E-SWEEP的機台有特殊的腔體， 能作真空或高壓的操作，且SII E-SWEEP儀器解析度較好。-TOP- |
| 本系電腦設備相當豐富，所有電腦均已透過先進之光纖網路及臺灣大學計算機及資訊網路中心與全世界學術網路連線，查詢資料與傳遞訊息均相當便利。本系並購置各種電腦輔助程序設計與計算流體力學軟體，供師生教學及研究使用。 |