國立臺灣大學化學工程學系(所) – 儀器設備與公用實驗室 / Facility

公用實驗室
實驗室 位置 電話 指導教授
化工一館-表面分析實驗室 113 2368-3317
3366-3009
廖英志
化工一館-粉粒體技術實驗室 107,109 3366-3010
3366-3011
廖英志
化工一館-儀器分析實驗室 127 3366-3047 廖英志
化工一館-掃描探針顯微儀室 SII (E-SWEEP) 109A 3366-3043 戴子安
化工二館-鄭江樓貴重儀器室 N210 3366-1508 廖英志


系所公用設備簡介
共用儀器
本系除各研究室購置所需之實驗設備外,為使貴重儀器能被充份使用,發揮最大功能,乃集中成立化工一館-儀器分析實驗室化工二館-鄭江樓貴重儀器室粉粒體技術實驗室表面分析實驗室掃描探針顯微儀室等五個共用儀器室,由專業技術人員有效的管理,並提供教育訓練、技術諮詢、委託分析等多項服務,並協助各教授與學生們在研究上之實驗分析工作。
粉粒體技術實驗室
本實驗室匯集粉粒體分析之相關設備,擁有國內最完整的粉粒體技術與奈米材料研究等量測設備,包括場發射電子顯微鏡、粒徑分佈、比表面積分析、孔隙分佈、介面電位與粉粒體密度之量測等設備。其主要儀器有:

●顯微鏡

-場發射電子顯微鏡(Ultra-High Resolution FE-SEM with low vacuum mode)

-光學顯微鏡(I)(Optical Microscope)

-光學顯微鏡(II)(Optical Microscope)

●粒徑分析儀/●表面電位測量儀

-雷射光繞射粒徑分析儀(Particle Size Analyzer by Static Light Scattering Method)

-高濃度粒徑分析及界面電位分析儀(Acoustic and Electroacoustic Spectrometer)

-動態光散射粒徑分析儀及界面電位分析儀(Particle Size and Zeta Potential Analyzer)

●密度儀

-密度分析儀(Automatic Gas Displacement Pycnometer)

●表面積及孔隙度測定儀

-比表面積分析儀(Specific Surface Area & Pore Size Distribution Analyzer by Gas Adsorption Method, ASAP2010 and ASAP2020)

-水銀測孔儀(Mercury Porosimeter)

●篩分機

-超音波篩分機(Ultrasonic Autosiever)

●研磨機-TOP-

儀器分析實驗室
本實驗室匯集熱性質分析、化學分析、材料鑑定與分析、流體物性分析等相關設備,擁有X光繞射儀、熱重示差同步掃描分析儀、表面電漿共振儀與拉曼光譜儀等十餘種分析儀器。主要儀器有:

● 熱性質分析:

– 熱重分析儀 (Thermogravimetric Analysis(TGA))

– 差式掃瞄熱量分析儀 (Differential Scanning Calorimetry(DSC))

– 高溫示差同步掃描分析儀 (Thermogravimetry/Differential Thermal Analysis Thermoanalyzer(TG-DTA))

– 示差熱掃描-熱重分析儀 (Differential Scanning Calorimetry/ Thermogravimetry (DSC/TGA))

● 化學分析

– 原子吸收光譜分析儀 (Atomatic Analyzer(AA))

– 膠透層析儀 (Gel Permeation Chromatography(GPC))

– 離子層析儀 (Ion Chromatography(IC))

– 表面電漿共振儀 (Surface Plasmon Resonance(SPR))

– 霍氏轉換紅外光譜儀 (Fourier-Transform Infrared Spectrometer (FTIR))

● 材料鑑定與分析

– 掃瞄式電子顯微鏡 (Scanning Electron Microscope(SEM))

– 分散 X 光能量分析 (Energy Dispersive Spectrometer(EDS))

– X 光繞射儀 (X-Ray Diffractometer(XRD))

● 流體物性分析

– 接觸角儀 (Contact Angle System)

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鄭江樓貴重儀器室
主要儀器有:

– 紫外光 – 可見光譜儀 (UV/Vis Spectrophotometer)

– 拉曼光譜儀 (Dimension Raman System)

– 偏光顯微鏡 (Polarized Optical Microscope)

– 光學顯微鏡 (Optical Microscope Confocal module)

– 屈折計 (Refractometer)

– X 光繞射儀 (X-Ray Diffractometer)

– 金相研磨機 (Grinding and Polishing Machine)

– 壓片機 (Pellet Press)

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表面分析實驗室
擁有化學分析電子能譜儀,係利用高能量的電磁波(Al-Kα(1486.6eV)照射材料表面,分析游離出“光電子(photoelectron)”束縛能,可判定材料表面元素成份,提供表面或薄膜結構之定量元素和化學組態資訊。

– 表面分析 – 電子能譜儀 (XPS) (X-ray Photoelectron Spectroscopy)

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掃描探針顯微儀室
原子力顯微鏡(AFM),係利用微小探針掃描樣品表面,可判定奈米級表面形貌、表面摩擦力大小分佈、表面導電性質分佈與表面穿遂電流分佈等奈米級表面性質。

化工系目前擁有的AFM,廠牌型號SII E-SWEEP。

AFM操作特點如下:將探針置於固體sample上來回掃描,利用原子間的作用力來分析sample表面的3D圖形,能進一部分析表面的結構尺度以及粗超度,能觀察的尺度可以達到奈米等級,掃描方式也能隨材料不同選擇接觸式或非接觸式,為非破壞式的分析。

一般AFM是開放的機台,而此台SII E-SWEEP的機台有特殊的腔體, 能作真空或高壓的操作。

目前存放位置在化工一館R109A實驗室,商借請至一館127實驗室辦理。

– 真空控溫型原子力顯微鏡 (Atomic Force Microscope (AFM))

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本系電腦設備相當豐富,所有電腦均已透過先進之光纖網路及臺灣大學計算機及資訊網路中心與全世界學術網路連線,查詢資料與傳遞訊息均相當便利。本系並購置各種電腦輔助程序設計與計算流體力學軟體,供師生教學及研究使用。